Member:Higuchi
京大推進研
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| − | *Tomoya Higuchi, Yukimasa Okada, Kouichi Ono and Koji Eriguchi : "Defect profiling of plasma-damaged layer by surface -controlled photoreflectance spectroscopy", 38th International Symposium on Dry Process: DPS2016, November 21-22, 2016, Conference Hall, Hokkaido University, Sapporo, Hokkaido, Japan. Proc. 38th International Symposium on Dry Process (DPS), 83-84 (2016). | + | *Tomoya Higuchi, Yukimasa Okada, Kouichi Ono and Koji Eriguchi : "Defect profiling of plasma-damaged layer by surface -controlled photoreflectance spectroscopy", [http://www.dry-process.org/2016/index.html 38th International Symposium on Dry Process: DPS2016], November 21-22, 2016, Conference Hall, Hokkaido University, Sapporo, Hokkaido, Japan. Proc. 38th International Symposium on Dry Process (DPS), 83-84 (2016). |
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2017年5月31日 (水) 18:35時点における版
樋口 智哉(Tomoya Higuchi)
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- 修士2年
研究概要
学歴
- 2012年4月 京都大学 工学部 物理工学科 入学
- 2016年3月 京都大学 工学部 物理工学科 卒業
- 2016年4月 京都大学大学院 工学研究科 航空宇宙工学専攻 入学
趣味
- ハンググライダー
- 旅行
- バス釣り(最近始めました)
学会発表
- Tomoya Higuchi, Yukimasa Okada, Kouichi Ono and Koji Eriguchi : "Defect profiling of plasma-damaged layer by surface -controlled photoreflectance spectroscopy", 38th International Symposium on Dry Process: DPS2016, November 21-22, 2016, Conference Hall, Hokkaido University, Sapporo, Hokkaido, Japan. Proc. 38th International Symposium on Dry Process (DPS), 83-84 (2016).
