樋口 智哉(Tomoya Higuchi)
研究概要
- Photoreflectance Spectroscopy
- Boron Nitride
学歴
- 2012年4月 京都大学 工学部 物理工学科 入学
- 2016年3月 京都大学 工学部 物理工学科 卒業
- 2016年4月 京都大学大学院 工学研究科 航空宇宙工学専攻 入学
趣味
- ハンググライダー
- 旅行
- バス釣り(最近始めました)
学会発表
- Tomoya Higuchi, Yukimasa Okada, Kouichi Ono and Koji Eriguchi : "Defect profiling of plasma-damaged layer by surface -controlled photoreflectance spectroscopy", 38th International Symposium on Dry Process: DPS2016, November 21-22, 2016, Conference Hall, Hokkaido University, Sapporo, Hokkaido, Japan. Proc. 38th International Symposium on Dry Process (DPS), 83-84 (2016).
