Member:Nakazaki
京大推進研
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| + | * Nobuya Nakazaki (M), Hirotaka Tsuda, Yoshinori Takao, Koji Eriguchi, and Kouichi Ono: "Molecular Dynamics Analysis of Ion Incident Energy and Angle Dependences of Si etching with Cl, Br, and HBr beams", [http://cm.wsu.edu/ehome/index.php?eventid=23665&/ 64th Annual Gaseous Electronics Conference], November 15–18, 2011, Salt Palace Convention Center, Salt Lake City, Utah, USA, NR1-11, Bull. Am. Phys. Soc. '''56'''(15) p. 64. | ||
| + | * Nobuya Nakazaki (M), Hirotaka Tsuda, Yoshinori Takao, Koji Eriguchi, and Kouichi Ono: "Molecular Dynamics Analysis of Ion Incident Energy and Angle Dependence of Si etching with Cl, Br, and HBr beams", [http://www.dps2011.kuaero.kyoto-u.ac.jp/ 33rd International Symposium on Dry Process (DPS 2011)], November 10-11, 2011, Kyoto Garden Palace Hotel, Kyoto, Japan, P1-16, Proc. 33rd Int. Symp. Dry Process, p. 53. | ||
== 国内学会 / Domestic conferences == | == 国内学会 / Domestic conferences == | ||
2012年11月26日 (月) 15:32時点における版
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中崎 暢也 (Nobuya Nakazaki)
- 修士課程2年
- メール：nakazaki.nobuya.58x
st.kyoto-u.ac.jp
- 所属学会：応用物理学会 (JSAP)
- 研究室内役職：OA委員、学会係
- 学生実験TA
研究 / Research
分子動力学（Molecular Dynamics: MD）法を用いたプラズマエッチング時の表面反応のシミュレーションを行っています。
学歴 / Education
- 2011年3月 京都大学 工学部 物理工学科 宇宙基礎工学コース 卒業
- 2011年4月 京都大学 大学院 工学研究科 航空宇宙工学専攻 入学（修士課程）
職歴 / Career
キーワード / Key words
- Molecular dynamics (MD)
お知らせ / What's New
- 2012/11/16 DPS 2012 にてポスター発表を行いました
- 2012/10/30 AVS 2012 にて口頭発表を行いました
- 2012/10/24 GEC 2012 にて口頭発表を行いました
- 2012/10/02 APCPST-SPSM 2012 にてポスター発表を行いました
- 2012/09/13 第73回秋季 応用物理学会学術講演会 にて口頭発表を行いました
- 2012/11/26 更新
投稿論文 / Journal articles
受賞 / Award
招待講演 / Invited talks
国際学会 / International conferences
2012
2011
- Nobuya Nakazaki (M), Hirotaka Tsuda, Yoshinori Takao, Koji Eriguchi, and Kouichi Ono: "Molecular Dynamics Analysis of Ion Incident Energy and Angle Dependences of Si etching with Cl, Br, and HBr beams", 64th Annual Gaseous Electronics Conference, November 15–18, 2011, Salt Palace Convention Center, Salt Lake City, Utah, USA, NR1-11, Bull. Am. Phys. Soc. 56(15) p. 64.
- Nobuya Nakazaki (M), Hirotaka Tsuda, Yoshinori Takao, Koji Eriguchi, and Kouichi Ono: "Molecular Dynamics Analysis of Ion Incident Energy and Angle Dependence of Si etching with Cl, Br, and HBr beams", 33rd International Symposium on Dry Process (DPS 2011), November 10-11, 2011, Kyoto Garden Palace Hotel, Kyoto, Japan, P1-16, Proc. 33rd Int. Symp. Dry Process, p. 53.
国内学会 / Domestic conferences
2012
2011
セミナー, 研究会 / Seminars, Workshops
学位論文題目
学部卒業研究 (2010年度, 2011年3月)
- 「分子動力学法を用いた Si エッチング表面反応解析：Cl, Br, HBr ビームエッチングにおけるイオン入射角度依存性及び入射エネルギー依存性」
